Obrábění

21. listopadu 2016 00:31

HEIDENHAIN TS 642

Univerzální použití dotykových měřidel řady TS 6xx

Stačí jediná chybná výchylka, a neštěstí je hotové: dotykové měřidlo narazí nepřiměřenou silou do obrobku nebo upínacího zařízení. Aby podobná kolize nezpůsobila delší prostoj stroje, nabízí společnost HEIDENHAIN univerzální náhradu dotykových měřidel řady TC 6xx.

Pokud došlo ke kolizi některého ze známých dotykových měřidel TS 640, TS 641, TS 649 a TS 632, poskytuje TS 642 možnost univerzální náhrady. Univerzální dotykové měřidlo TS 642 může nahradit všechna stará dotyková měřidla řady TS 6xx, takže zákazník může redukovat svoje skladové zásoby. Stačí mít k dispozici jeden typ přístroje.

Původní vysílací i přijímací jednotka může navíc zůstat ve stroji a používat lze nadále i všechny kabely. Dokonce i dotykové hroty jsou kompatibilní. Výměna je díky tomu rychlá a jednoduchá.

Vlastnosti přístroje TS 642 v podstatě odpovídají vlastnostem známých dotykových měřidel, nicméně nabízejí některé další přednosti:

  • současnou technologii snímačů s životností minimálně 5 milionů cyklů,
  • integrované ofukovací trysky pro očištění obrobku vzduchem nebo chladicí kapalinou,
  • delší provozní dobu baterie a flexibilní použití různých typů baterií,
  • velký infračervený dosah až 7 m s velkým vyzařovacím úhlem.

Informace o opravách nebo možnostech výměny vadných nebo starších dotykových měřidel jsou k dipozici v servisu a v obchodních zastoupeních společnosti HEIDENHAlN.

www.heidenhain.cz

Mohlo by se Vám líbit

12 trendů, které budou formovat automotive v roce 2026

Automobilový průmysl patří mezi segmenty, které výrazně ovlivňují technologie, regulace, energetika i změny v chování zákazníků. Změny se promítají do podoby samotných vozů, způsobu jejich […]

Tungaloy reaguje na rostoucí náklady na slinutý karbid chytřejšími a udržitelnějšími řešeními

Rostoucí ceny wolframu, zvyšující se tlak na dostupnost surovin a silná poptávka ze strany vyspělých průmyslových odvětví mění globální odvětví obrábění. V průběhu roku 2025 […]

PGI: Digitální revoluce ukrytá v konstrukci snímače

V metrologii profilu povrchu neustále narážíme na jeden zásadní kompromis: buď měříme s vysokým rozlišením na krátké dráze, nebo měříme s velkým rozsahem, ale ztrácíme detaily. […]