Strojírenství

26. září 2019 07:34

TM Technik představuje novou generaci bezkontaktních 3D skenerů

SMARTTECH3D MICRON 3D green

Bezkontaktní skenery se využívají při měření a kontrole kvality ve výrobě, při reverzním inženýrství, při skenování obecných tvarů a další.

MICRON3D green je komplexní řešení po pokročilé aplikace 3D skenování od polského výrobce SMARTTECH3D. Tento skener má o 30 % vyšší přesnost oproti tradiční metodě měření pomocí bílého světla.

Skener je vybaven vyměnitelnými prachové filtry pro práci v prašném prostředí. Konstrukce boxu skeneru z karbonu dává vyšší teplotní stabilitu. Součástí dodávky je profesionální přepravní kufr pro převoz a manipulaci a kvalitní stativ s nastavitelným natočením pro automatický sběr dat. Jako opce je dostupný rotační stůl, softwarové rozšíření a další. Skenery Smarttec3D jsou certifikovány dle normy VDI / VDE 2634.

Důležité parametry:

  • ƒƒ nejvyšší rozlišení skenování 10 Mpix,
  • ƒƒ max. měřené pole 400 × 600 mm,
  • ƒƒ minimální vzdálenost bodů 0,052 mm,
  • ƒƒ max. přesnost 13 μm,
  • ƒƒ automatické zarovnání skenovaných dat dle cílových značek.

 

Navštivte nás na MSV Brno 7. – 11. října 2019 v pavilonu F, stánek č. 30.


www.tm-technik.cz

Mohlo by se Vám líbit

Tam, kde se přesnost snoubí se sílou: společnost Conrad od nynějška dodává časomíru a elektroniku pro Světový pohár BMW IBU v biatlonu

Tam, kde se přesnost snoubí se sílou: společnost Conrad od nynějška dodává časomíru a elektroniku pro Světový pohár BMW IBU v biatlonu Popisek obrázku: Společnost Conrad […]

JC-Metal uvede na český a slovenský trh světovou novinku: svařovací stůl s chytrými nohami

Rodinná firma JC-Metal přináší českým a slovenským zákazníkům inovaci v podobě polohovatelných nohou Smart Leg pro svařovací stoly Siegmund. Revoluční systém s automatickým vyrovnáváním, pamětí […]

AMPER 2026: Návrat velkých jmen na veletrh i novinky v doprovodném programu

Veletrh AMPER vstupuje v roce 2026 do nové etapy. Ta přináší nejen výrazné programové novinky, ale znamená také příchod nových či návrat velkých značek, které […]