Strojírenství

26. září 2019 07:34

TM Technik představuje novou generaci bezkontaktních 3D skenerů

SMARTTECH3D MICRON 3D green

Bezkontaktní skenery se využívají při měření a kontrole kvality ve výrobě, při reverzním inženýrství, při skenování obecných tvarů a další.

MICRON3D green je komplexní řešení po pokročilé aplikace 3D skenování od polského výrobce SMARTTECH3D. Tento skener má o 30 % vyšší přesnost oproti tradiční metodě měření pomocí bílého světla.

Skener je vybaven vyměnitelnými prachové filtry pro práci v prašném prostředí. Konstrukce boxu skeneru z karbonu dává vyšší teplotní stabilitu. Součástí dodávky je profesionální přepravní kufr pro převoz a manipulaci a kvalitní stativ s nastavitelným natočením pro automatický sběr dat. Jako opce je dostupný rotační stůl, softwarové rozšíření a další. Skenery Smarttec3D jsou certifikovány dle normy VDI / VDE 2634.

Důležité parametry:

  • ƒƒ nejvyšší rozlišení skenování 10 Mpix,
  • ƒƒ max. měřené pole 400 × 600 mm,
  • ƒƒ minimální vzdálenost bodů 0,052 mm,
  • ƒƒ max. přesnost 13 μm,
  • ƒƒ automatické zarovnání skenovaných dat dle cílových značek.

 

Navštivte nás na MSV Brno 7. – 11. října 2019 v pavilonu F, stánek č. 30.


www.tm-technik.cz

Mohlo by se Vám líbit

Robotická automatizace procesů v dodavatelských řetězcích zvyšuje efektivitu, ale vytváří nová kybernetická rizika, tvrdí Fortinet

Fortinet si je jako lídr v kybernetické bezpečnosti vědom klíčového rizika robotické automatizace procesů (RPA) v dodavatelských řetězcích. Podle Fortinetu RPA propojuje systémy jako ERP […]

AMPER: HENNLICH představí nové kabely chainflex pro jevištní techniku

Bezporuchové, cenově výhodné, nenápadné a se zárukou 4 roky na spolehlivý výkon. To je nová řada kabelů chainflex CFSPECIAL.381, která vychází vstříc speciálním požadavkům pro […]

Laserové čištění v jaderné energetice: když přesnost rozhoduje o bezpečnosti

Laserové technologie dnes nacházejí uplatnění napříč průmyslovými odvětvími – od automotive přes letectví až po energetiku. V každém z nich řeší specifické požadavky na přesnost, […]