17. dubna 2024 07:03
Pozvánka na 8. ročník konference „Očekávaný vývoj odvětví kolejových vozidel v ČR a ve světě“

Pozvánka na 8. ročník konference: konferenci: „Očekávaný vývoj odvětví kolejových vozidel v ČR a ve světě“, která se koná dne 24. 4. 2024 v Brně, v kongresovém centru Quality Hotel Brno Exhibition Centre.
Na konferenci zazní trendy, inovace, nové technologie, možnosti digitalizace, robotizace, automatizace, 3Dtechnologií, energetických úspor, využití umělé inteligence a další témata.
Pozvání přijali a konference se zúčastní představitelé společností například:
SIEMENS, STADLER, ALSTOM, ŠKODA DIGITAL, Správa železnic, České dráhy, ČD Cargo, DAKO-CZ, BONATRANS, Strojírna Oslavany, Würth Industry, MSV elektronika, MSV Metal Studénka, FANUC, GUMEX, Roxtec CZ, SENSIT, TEDOM, TECHNODAT, Lankwitzer CR, Otavské strojírny, ČMŽO – elektronika, Starmon, ANVI-TRADE, Rail Cargo Logistics, AŽD, Železničná spoločnosť Slovensko (ZSSK), SaZ, ŽOS Trnava, VUZ Slovakia, Railtrans International a řady dalších společností.
Bližší informace a program naleznete v příloze a na www.konference.org/kolejovavozidla2024
Na konferenci bude dán prostor pro navázání spolupráce.
Portál oneindustry se stal mediálním partnerem.
Naši čtenáři a obchodní partneři mohou využít zvýhodněný účastnický poplatek a slevu 1.000 Kč.

Mohlo by se Vám líbit
12 trendů, které budou formovat automotive v roce 2026
- Automotive
-
06. března 2026
Automobilový průmysl patří mezi segmenty, které výrazně ovlivňují technologie, regulace, energetika i změny v chování zákazníků. Změny se promítají do podoby samotných vozů, způsobu jejich […]
Tungaloy reaguje na rostoucí náklady na slinutý karbid chytřejšími a udržitelnějšími řešeními
- Obrábění
-
05. března 2026
Rostoucí ceny wolframu, zvyšující se tlak na dostupnost surovin a silná poptávka ze strany vyspělých průmyslových odvětví mění globální odvětví obrábění. V průběhu roku 2025 […]
PGI: Digitální revoluce ukrytá v konstrukci snímače
- Digitalizace
-
04. března 2026
V metrologii profilu povrchu neustále narážíme na jeden zásadní kompromis: buď měříme s vysokým rozlišením na krátké dráze, nebo měříme s velkým rozsahem, ale ztrácíme detaily. […]
