Plasty

13. dubna 2016 00:15

Odborná konference PLASTKO 2016

Prezentace výsledků výzkumu a vývoje či výstupů inovačních projektů a zhodnocení trendů v oblasti chemie a plastikářského průmyslu. To jsou hlavní cíle konference PLASTKO 2016, která se ve dnech 20.–21. dubna 2016 uskuteční v Academia centru Univerzity Tomáše Bati ve Zlíně (UTB).

Konferenci PLASTKO pořádá pravidelně každé dva roky Univerzitní institut UTB. Letos půjde již o 5. ročník. Náplní dvoudenní akce budou plenární přednášky představující novinky a trendy plastikářského sektoru i odborné přednášky seznamující s výsledky výzkumu a vývoje vědecké i komerční sféry. Součástí akce budou také posterové prezentace na flexibilních výstavních plochách. Veškeré příspěvky prezentované na konferenci budou vydány jako sborník na CD.

Garantem konference, která je určena pro odborníky z podniků, klastrů a výzkumných organizací zabývajících se zpracováním plastů a polymerní chemií, je rektor UTB prof. Ing. Petr Sáha, CSc. Program zahrne také prohlídku nového objektu Centra polymerních systémů.

Vybraná témata letošního Plastka:

  • Úpravy povrchových vlastností polymerů a tvářecích nástrojů
  • Nové typy a aplikace polymerních materiálů
  • Zpracování a zkušebnictví polymerních materiálů
  • Speciální výrobky z polymerů

Konference PLASTKO je realizována v rámci udržitelnosti a naplňování cílů projektu OP VaVpI „Rozvoj CTT na UTB ve Zlíně“, reg. č. CZ.1.05/3.1.00/10.0205

www.plastko.utb.cz

Mohlo by se Vám líbit

12 trendů, které budou formovat automotive v roce 2026

Automobilový průmysl patří mezi segmenty, které výrazně ovlivňují technologie, regulace, energetika i změny v chování zákazníků. Změny se promítají do podoby samotných vozů, způsobu jejich […]

Tungaloy reaguje na rostoucí náklady na slinutý karbid chytřejšími a udržitelnějšími řešeními

Rostoucí ceny wolframu, zvyšující se tlak na dostupnost surovin a silná poptávka ze strany vyspělých průmyslových odvětví mění globální odvětví obrábění. V průběhu roku 2025 […]

PGI: Digitální revoluce ukrytá v konstrukci snímače

V metrologii profilu povrchu neustále narážíme na jeden zásadní kompromis: buď měříme s vysokým rozlišením na krátké dráze, nebo měříme s velkým rozsahem, ale ztrácíme detaily. […]