07. března 2019 08:45
ABB představuje chytřejší budoucnost
Rychlonabíjecí stanice, nové jističe SACE Tmax XT, inspekční robot, revoluční ochranná a řídící jednotka nebo solární měnič – to a mnohem více čeká na návštěvníky stánku ABB na veletrhu Amper.
Digitalizace je v plném proudu a společnost ABB je v čele jejího rozvoje. I proto si pro letošní 27. ročník mezinárodního veletrhu Amper 2019 připravila produktové novinky, které spoluvytváří chytřejší domácnosti, domy, továrny i celá města. Zájemci na ABB stánku 4.10 v hale P naleznou mnoho inovativních řešení, která již nejsou smart ale smarter.

„Jsou to řešení, která usnadňují život, přináší bezpečnost, šetří energii a tvoří chytřejší budoucnost. S hrdostí mohu říci, že ABB je v čele těchto změn souvisejících s digitalizací, e-mobilitou a obecně ekologičtějším a efektivnějším přístupem k vytváření nových výrobků se širokým uplatněním jak pro lidi, tak i firmy. Na letošním Amperu chceme ukázat, že chytřejší výrobek neznamená složitější, ale naopak jednodušší a uživatelsky komfortnější,“ říká Tanja Vainio, generální ředitelka ABB pro Českou republiku a Slovensko.
Více informací o vystavovaných produktech na speciální webové stránce: new.abb.com/cz/media/eventy-a-akce/abb-na-veletrhu-amper-2019.
Navštivte ve dnech 19. až 22. března 2019 ABB stánek 4.10 v hale P na brněnském výstavišti!
Mohlo by se Vám líbit
12 trendů, které budou formovat automotive v roce 2026
- Automotive
-
06. března 2026
Automobilový průmysl patří mezi segmenty, které výrazně ovlivňují technologie, regulace, energetika i změny v chování zákazníků. Změny se promítají do podoby samotných vozů, způsobu jejich […]
Tungaloy reaguje na rostoucí náklady na slinutý karbid chytřejšími a udržitelnějšími řešeními
- Obrábění
-
05. března 2026
Rostoucí ceny wolframu, zvyšující se tlak na dostupnost surovin a silná poptávka ze strany vyspělých průmyslových odvětví mění globální odvětví obrábění. V průběhu roku 2025 […]
PGI: Digitální revoluce ukrytá v konstrukci snímače
- Digitalizace
-
04. března 2026
V metrologii profilu povrchu neustále narážíme na jeden zásadní kompromis: buď měříme s vysokým rozlišením na krátké dráze, nebo měříme s velkým rozsahem, ale ztrácíme detaily. […]
